咨询热线

400-67403087


产品中心
您当前的位置: 首页 > 产品中心
第一系列 第二系列 第三系列 第四系列 第五系列 第六系列

场致发射显微分析综合系统介绍

时间:2025-12-15 05:52:21
更多
  

  自德国科学家E.W.Muller于1936年发明“场致发射显微镜(FEM)”,场致发射显微术就开始显示出它的巨大威力。FEM具有20A的空间分辨率和精确测定样品表面功函数及其变化的能力,这使它成为最早以微观尺度研究固体表面的工具之一,对表面科学的建立与发展起了巨大的推动作用。Muller于1955年使它达到了原子分辨率(2.5~3(?)),成为世界上第一个亲眼看见原子的人。在此之后近二十年中,FIM一直是唯一能实现原子尺度空间分辨率的显微技术,因而受到各发达工业国家的高度重视。1967年Muller用高压脉冲离化脱附样品表面粒子,配合以飞行时间质谱鉴别其元素,把飞行时级质谱与FIM结合起来,创造了“高压脉冲直线式原子

  一丁. 场致发射显微分析综合系统介绍[J]. , 1991, 30(3): 0-0.


地址:海南市海口市龙华区海垦街道凯时kb88大厦27号   电话:0898-64481962
传真:0896-98589990
ICP备案编号:琼ICP备66735495
Copyright © 2025-2028 凯时kb88有限公司 版权所有 非商用版本